Đặc điểm của máy phân tích thành phần kim loại cầm tay Model X-MET8000 Optimum

Máy XRF phân tích kim loại di động đang ngày càng được sử dụng ngày càng nhiều để kiểm tra nhanh thành phần hóa học  của các nguyên tố trong kim loại, phân loại nhanh các loại hợp kim, inox, hợp kim nhôm, đồng.

Khác với các dòng máy tương tự của các hãng sản xuất khác, thiết bị của hãng Hitachi High-Tech sử dụng các công nghệ tối ưu như Bộ xử lý ARM Cortex A8, Hệ điều hành LINUX, Cảm biến Detector SDD…Hãng Hitachi cũng tích hợp sẵn 1 cơ sở dữ liệu mác vật liệu Grade Database với khoảng 1500 mác.

Máy quang phổ XRF X-MET8000 Optimum là thiết bị phân tích hợp kim cầm tay dùng phương pháp huỳnh quang tia-X (XRF) giúp phân tích nhanh, không phá hủy và kết quả chính xác cho việc kiểm soát, đảm bảo chất lượng sản xuất.
Sự kết hợp của một ống phát tia X-ray hiệu suất cao và đầu dò detecter (SDD) mang lại hiệu quả cần thiết cho những ứng dụng QA/QC khắt khe nhất.
Với X-MET8000 bạn nhận được kết quả chính xác trong vài giây, giảm chi phí và thời gian thử nghiệm. 

Thiết bị X-MET8000 được thiết kế hiệu suất tối ưu, dễ sử dụng và chính xác. Quản lý dữ liệu mạnh mẽ. Thư viện lớp mở rộng, có thể tùy chỉnh.

Tích hợp các thư viện mác vật liệu lớn nhất trên thị trường

Tiêu chuẩn bảo vệ IP54 giúp máy làm việc trong môi trường khắc nghiệt, kháng nước, kháng bụi.

Người sử dụng có thể lựa chọn các thư viện theo các tiêu chuẩn như: AISI, DIN, JIS và GB 

Phân tích được các nguyên tố siêu nhẹ (Mg, Al, Si, P, S) mà không cần chất tẩy heli hoặc bơm chân không.

Mẫu kiểm tra CRM đi kèm để xác nhận khả năng hoạt động ổn định và chính xác của thiết bị X-MET8000 trong mọi thời điểm.